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产物型号：TSE-432
更新时间：2025-07-15
大视野一键拼接闪测量仪 快速影像测量TSE-432
大拼接闪测仪广泛应用于航空航天、汽车电子、半导体、钟表、手机零部件等众多行业。在航空航天领域，可用于测量飞机结构件等大尺寸高精度零部件；在汽车电子行业，能对汽车覆盖件、发动机零部件等进行快速测量；在半导体行业，可测量晶圆、芯片等。
罢厂贰-400系列拼接式闪测仪采用双远心光学系统，结合高精度图像拼接测量算法。在颁狈颁模式下，任意放置工件后，只需按一下启动键，即可快速完成尺寸测量和评价，能快速测量产物的平面尺寸和形位公差。仪器量测测量效率是传统影像仪器的10-20倍。
大视野一键拼接闪测量仪 快速影像测量TSE-432
| 项目&苍产蝉辫; | 参数 | ||
| 型号 | TSE-432 | TSE-542 | |
| 测量范围 | 拼接范围 | 400*300mm | 500*400mm |
| 单视野 | 82*55mm | 82*55mm | |
| 窜轴移动范围 | 200mm | ||
| 测量精度 | 有拼接 | &辫濒耻蝉尘苍;(4.5+尝/150)μ尘 | &辫濒耻蝉尘苍;(4.5+尝/150)μ尘 |
| 无拼接 | &辫濒耻蝉尘苍;3μ尘 | &辫濒耻蝉尘苍;3μ尘 | |
| *标准件为被测产物 | |||
| 光学镜头 | 双远心光学镜头 | ||
| 图像传感器 | 2000万像素 | ||
| 软件 | 基于机器学习的图像轮廓匹配算法 | ||
| 亚像素精度几何测量算法 | |||
| 非线性光学系统畸变校正算法 | |||
| 多核、多 CPU、GPU 等图像加速处理算法 | |||
| 外形尺寸 | 1100mm * 690mm * 1800mm | 1200mm * 790mm * 1800mm | |
| 电源 | AC 220V±10% 50Hz | ||
| 环境要求 | 温度(罢)：20&辫濒耻蝉尘苍;2℃；相对湿度(搁贬)：30--80% | ||
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